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捷歐路JEOL JEM-ARM300F GRAND ARM 透射電子顯微鏡

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更新時間：2023-05-26 13:49:31瀏覽次數(shù)：302次

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產(chǎn)品簡介

詳細介紹

捷歐路JEOL JEM-ARM300F GRAND ARM 透射電子顯微鏡配備了JEOL自主研發(fā)的球差校正器，加速電壓可達300kV，是一款原子級分辨率電子顯微鏡。實現(xiàn)了高的STEM-HAADF像分辨率。采用JEOL自主研發(fā)的球差校正器，掃描透射像（STEM像)的保證分辨率可達63pm（300kV,超高分辨率極靴、使用STEM球差校正器時）。ETA校正器（Expanding trajectory aberration corrector）是JEOL研發(fā)的擴展軌道型12極球差校正器。可以在用戶現(xiàn)場加裝STEM球差校正器及TEM球差校正器。標配了全新設計的冷場發(fā)射電子槍,低能散、高亮度電子束能提供高分辨率觀察和分析。為了支持用戶廣泛的需求，研發(fā)了兩種各具特點的物鏡極靴。能安裝超大立體角EDS（能譜儀）、EELS（電子能量損失譜儀）、背散射電子檢測器及四種STEM觀察檢測器。標配300kV和80kV下的球差校正數(shù)據(jù),可選的加速電壓范圍從40KV?300kV，使用范圍極廣。新的排氣系統(tǒng)達到了的真空度，在原子尺度的圖像觀察和分析中，限度地減輕了對樣品的污染和損傷。整體穩(wěn)定性高、直徑330mm的鏡筒增加了機械剛度，在JEM-ARM200F高度穩(wěn)定的技術基礎之上，把電氣穩(wěn)定性和對環(huán)境的抗力提高到新高度。

分辨率	300 kV，80 kV
物鏡種類※1	UHR極靴	HR極靴
STEM分辨率（300kV）使用STEM校正器	0.063nm	0.082nm
TEM分辨率（300 kV）	線分辨率0.05nm	線分辨率0.06nm
使用TEM校正器	非線性信息分辨極限0.06nm	非線性信息分辨極限0.08nm
使用TEM校正器	線性信息分辨極限0.09nm	線性信息分辨極限0.12nm