UV754N可見分光光度計

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更新時間：2025-04-30 15:14:50瀏覽次數(shù)：41次

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產(chǎn)品簡介

上海儀電UV754N可見分光光度計波長范圍:200-800nm帶寬:4nm是一種能適應現(xiàn)代分析實驗室運用光譜分析法對物質(zhì)進行各種定性定量分析需要的低價格、高性能的分光光度計

詳細介紹

上海儀電

UV754N可見分光光度計

波長范圍:200-800nm
帶寬:4nm

是一種能適應現(xiàn)代分析實驗室運用光譜分析法對物質(zhì)進行各種定性定量分析需要的低價格、高性能的分光光度計。廣泛應用于環(huán)境保護、食品工業(yè)、石油化工、生物化學、大專院校及質(zhì)量控制等部門。

特點：
◆采用的全息閃耀光柵單色器，具有波長精度高，單色性好，雜散光低等優(yōu)點。
◆一鍵實現(xiàn)自動調(diào)零和調(diào)滿度功能。
◆嚴密的工藝及元件選擇，保證儀器測量系統(tǒng)的低漂移和低噪聲，使儀器具有超群的測量讀數(shù)重現(xiàn)性和穩(wěn)定性。
◆大屏幕字符型液晶顯示器。
◆數(shù)據(jù)打印和時間打印。
◆待定系數(shù)法和系數(shù)輸入法二種濃度線性回歸運算。
◆的自動消除比色皿誤差功能。
◆配有高速熱敏打印機
◆配合軟件UVWin7使用，拓展儀器的使用功能。
◆UVWin7軟件包（另購）。

主要技術指標：
◆波長范圍；200nm～1000nm
◆波長允許誤差：±2nm
◆波長重復性：≤1nm
◆透射比允許誤差：±0.5%（T）（以NBS930D測定）
◆透射比重復性：≤0.2%（T）
◆光譜帶寬：4nm
◆雜散光: 0.3%（T）(在220nm處，以NaI測定，在360nm處，以NaNO2測定)
◆穩(wěn)定性：暗電流漂移：≤0.2%（T）/3min 亮電流漂移：≤0.5(T)/3min

其它：
◆儀器尺寸和重量：500mm×350mm×190mm 14kg