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深圳市云帆興燁科技有限公司
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產(chǎn)品型號(hào)ITC55100
品 牌
廠商性質(zhì)其他
所 在 地深圳市
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更新時(shí)間：2024-12-01 22:27:31瀏覽次數(shù)：26次
聯(lián)系我時(shí)，請(qǐng)告知來自 包裝印刷網(wǎng)ITC55100C 型號(hào)是一代的行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)系列 ITC55100 測(cè)試儀。該系統(tǒng)是圍繞一個(gè)非常強(qiáng)大的微控制器設(shè)計(jì)的，它的時(shí)序分辨率為40ns，比前代型號(hào)快20倍。
ITC55100C 型號(hào)是一代的行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)系列 ITC55100 測(cè)試儀。該系統(tǒng)是圍繞一個(gè)非常強(qiáng)大的微控制器設(shè)計(jì)的，它的時(shí)序分辨率為40ns，比前代型號(hào)快20倍。其對(duì)峰值和零電流的響應(yīng)時(shí)間提高了十倍。結(jié)合這一功能，可提高充電和雪崩時(shí)間以及報(bào)告的峰值排水電流的準(zhǔn)確性。
ITC55100C 型號(hào)具有雙極柵驅(qū)動(dòng)器作為標(biāo)準(zhǔn)功能。用戶可以設(shè)置高達(dá) 30V 的總柵極驅(qū)動(dòng)器，并可以選擇 30V 中有多少為正，有多少是負(fù)的。此功能可確保某些設(shè)備在雪崩期間保持狀態(tài)。
ITC55100C 執(zhí)行符合 MIL-STD-750E 方法 3470 的多種類型的測(cè)試。方法 3470 通過強(qiáng)調(diào) P 通道和 N 通道 MOSFET 和 IGBT 到受控能量水平來測(cè)試它們的能力。這是通過驅(qū)動(dòng)未夾緊的電感負(fù)載的設(shè)備實(shí)現(xiàn)的。
?單/雙設(shè)備測(cè)試
? N 通道，P 通道，混合
? 所有固態(tài)開關(guān) ? 無繼電器
? 40ns 的時(shí)序分辨率
? 電流范圍：0.1A 至 200A，0.1A 步長
? 阿瓦蘭奇電壓至 2500V
? 雙極柵驅(qū)動(dòng)，帶 30V 回轉(zhuǎn)
? 新的高效開爾文電路
? 傳統(tǒng)的 UIL 模式（通過 GPIB）
? 觸摸屏程序輸入/控制
? 波形捕獲/顯示
? 內(nèi)部測(cè)試程序存儲(chǔ)（20 個(gè)文件）
? 高速電感充電，縮短測(cè)試時(shí)間
? 可編程泄漏測(cè)試電壓
? 阿瓦蘭切前/后泄漏測(cè)試
? 阿瓦蘭奇坍塌測(cè)試
? 多功能測(cè)試處理程序控制
? 多達(dá) 15 個(gè)硬件排序箱
? 提高電壓/電流精度
? 通過閃存下載進(jìn)行軟件更新
? 參數(shù)輸入的密碼控制
? 使用所有 ITC 電感負(fù)載箱運(yùn)行
? 與 ITC55MUX4 和 ITC55-RSF 的接口
? 簡(jiǎn)單、完整的用戶校準(zhǔn)
? 內(nèi)置自檢
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