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HORIBA科學(xué)儀器

德國(guó)林賽斯LINSEIS

輻射測(cè)量?jī)x器設(shè)備

韓國(guó)KLAB分析與測(cè)量?jī)x器

日本捷歐路JEOL

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光譜儀器

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廣州文明機(jī)電有限公司

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霍爾效應(yīng)測(cè)量系統(tǒng)L79/HCS

詳細(xì)摘要：
產(chǎn)品型號(hào)：所在地：廣州市更新時(shí)間：2024-11-24 在線留言
重力吸附分析儀GSA PT 1000

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重力吸附分析儀GSA PT 100

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重力吸附分析儀GSA PT 10

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熱機(jī)械分析儀TMA PT1600

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熱機(jī)械分析儀TMA PT1000

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差熱分析儀DTA PT1600

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STA HP1/2高溫高壓同步熱分析儀

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STA HP3高溫高壓同步熱分析儀

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STA PT 1600 高溫同步熱分析儀

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STA PT 1000 同步熱分析儀

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JXA-8230 電子探針顯微分析儀

詳細(xì)摘要：可以安裝通用性強(qiáng)、使用方便的能譜儀X射線探測(cè)器，組合使用WDS和EDS，能提供無(wú)縫、舒適的分析環(huán)境。
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JXA-8530F Plus 場(chǎng)發(fā)射電子探針顯微分析儀

詳細(xì)摘要： 2003年日本電子推出了世界商業(yè)化場(chǎng)發(fā)射電子探針（FE-EPMA），此后被廣泛地應(yīng)用于金屬、材料、地質(zhì)等各個(gè)領(lǐng)域，并獲得了的贊譽(yù)。研發(fā)的第三代場(chǎng)發(fā)射電子探針JX...
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JXA-iHP200F 場(chǎng)發(fā)射電子探針顯微分析儀

詳細(xì)摘要： JXA-iHP200F在保持高局部微量元素分析性能的同時(shí)，追求每個(gè)人都能簡(jiǎn)單快速地使用好儀器。該儀器能更加有效地進(jìn)行觀察分析和操作，是更的一體化集成FE-EPM...
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JXA-iSP100 電子探針顯微分析儀

詳細(xì)摘要： JXA-iSP100在保持高局部微量元素分析性能的同時(shí)，追求每個(gè)人都能簡(jiǎn)單快速地使用好儀器。該儀器能更加有效地進(jìn)行觀察分析和操作，是更的一體化EPMA。
產(chǎn)品型號(hào)：所在地：廣州市更新時(shí)間：2024-11-24 在線留言
JSM-7900F 熱場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡

詳細(xì)摘要： JEOL新一代場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡的旗艦機(jī)型。它繼承了上一代廣獲好評(píng)的性能如的空間分辨率、高穩(wěn)定性、多種功能等的同時(shí)，操作性能極大簡(jiǎn)單化。該設(shè)備不依賴操作者的...
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JSM-F100 熱場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡

詳細(xì)摘要： JSM-F100集成了備受推崇的In-lens Schottky Plus Gun和電子光學(xué)控制系統(tǒng)Neo Engine，一個(gè)新開(kāi)發(fā)的操作GUI“SEM Cen...
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JSM-IT200 InTouchScope™ 掃描電子顯微鏡

詳細(xì)摘要： JSM-IT200 InTouchScope™ 是一款更簡(jiǎn)潔、更易于使用且性價(jià)比高的掃描電子顯微鏡
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JSM-IT500 掃描電子顯微鏡

詳細(xì)摘要： JSM-IT500是JEOL InTouchScope系列的新機(jī)型。從設(shè)定視野到生成報(bào)告，用于分析的軟件整合于一體，加快了作業(yè)速度！是一款無(wú)縫操作，使用更加方...
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JSM-IT500HR 掃描電子顯微鏡

詳細(xì)摘要： JEOL InTouchScope™系列的新機(jī)型, 采用新開(kāi)發(fā)的高亮度電子槍和透鏡系統(tǒng)，可以更迅速便捷地提供令人驚嘆的高分辨率圖像、高靈敏度和高空間...
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