詳細摘要: 主要特點:1.FEI ESEM(環(huán)境掃描電鏡)技術,可在高真空、低真空和環(huán)境真空條件下對各種樣品進行觀察和分析。2.所有真空條件下的二次電子、背散射電子觀察和微...
產(chǎn)品型號:所在地:更新時間:2024-03-23 在線留言
廈門億辰科技有限公司
詳細摘要: 主要特點:1.FEI ESEM(環(huán)境掃描電鏡)技術,可在高真空、低真空和環(huán)境真空條件下對各種樣品進行觀察和分析。2.所有真空條件下的二次電子、背散射電子觀察和微...
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